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Chroma 3160/3160F 4 site 終端測試分類(lèi)機

主要特色：

• 9K pcs 產(chǎn)能 (Model 3160)
• 彈性的矩陣測試及指紋圖形測試 (3160F)
• 1~10 Kgf 微型接觸力 (3160F)
• 1 x 4 DUT架構 (3160/3160F)
• 空載盤(pán)自動(dòng)堆迭 (選購) (3160F)
• 可設定的待測物間距
• 可側邊安裝測試機
• 可編程氣動(dòng)式阻尼器控制，以減少接觸力的影響響
• 智慧型IC殘留檢測
• 測試良率控制
• 通用治具
• 進(jìn)階版ESD標準

3160系列是一系列適合量產(chǎn)、高產(chǎn)出、多平行測試站點(diǎn)的高速I(mǎi)C測試分類(lèi)機。此系列分類(lèi)機運用Pick & Place技術(shù)，能夠配合多種封裝類(lèi)型并按照測試結果將它們排序分類(lèi)予分料盤(pán)中。其高效率的模組化設計與精準的機構傳動(dòng)結構可確保在高速運作下，機臺量測之重復性，并有助于增加機臺使用之穩定性與維護之便利性。此外，其簡(jiǎn)潔的機臺設計更可節省機臺于測試廠(chǎng)之占地面積，幫助客戶(hù)大幅降低生產(chǎn)成本。3160F則可依其待測物 (指紋辨識芯片) 的不同需求，修改測試條件及程序。

3160系列具備高可靠性的處理機制可依據測試需求支援各種不同類(lèi)型封裝的晶片，且能與通用生產(chǎn)治具相容，順暢的自動(dòng)化技術(shù)滿(mǎn)足高產(chǎn)能和低Jam Rate的量產(chǎn)要求。此外，可調式的壓測力和位置校正以及各種感應裝置可降低待測物發(fā)生突如其來(lái)的損壞，和幫助延長(cháng)socket的使用期，同時(shí)保持或提升產(chǎn)能的良率。

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