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致茂Chroma 3240-Q無(wú)線(xiàn)射頻分類(lèi)機

主要特色：

• 符合成本效益的RF整合方案
• 客制RF隔離室和整合Tester安裝
• 可調整測試間距至120mm
• 具有八個(gè)平行測試站點(diǎn)
• 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm
• 精確的定位能力
• 支援JEDEC和EIA料盤(pán)

3240-Q是一個(gè)獨特且創(chuàng )新、整合了射頻和無(wú)線(xiàn)隔離室之自動(dòng)分類(lèi)機。此機臺配置多達八個(gè)測試 站點(diǎn)和獨立的隔離作平行測試。 3240-Q具有順暢的自動(dòng)化測試,、精確的Pick & Place技術(shù)、彈 性的多測點(diǎn)架構、高產(chǎn)能和低Jam Rate等優(yōu)勢，適用于射頻和無(wú)線(xiàn)晶片測試。

3240-Q也可依據測試需求支援各種不同類(lèi)型封裝的晶片。具有自動(dòng)送料/分料盤(pán)設計, 3240-Q適 用于JEDEC和EIA料盤(pán)規范。另有選配的加強溫控的測試能力, 可提供高達150℃之高溫測試環(huán)境。

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