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致茂Chroma 52400e 高精度電源量測單元

主要特色：

• PXI Express模組設計 (x1 PCI Express Link)
• 2/4獨立通道(Model 52401e-7-1為四通道)
• 18-bit 量測解析度(多重檔位)
• 4象限輸出
• 6線(xiàn)式Force/Sense/Guard接線(xiàn)
• 低雜訊輸出
• DIO/觸發(fā)位元
• 可程式化硬體序列引擎-輸出
• 可編程阻抗輸出
• 16 組頻寬選擇
• 可編程輸出轉換率及高速量測(100k s/S)
• 主從控制模式
• LabView/LabWindows & C/C# API驅動(dòng)程式
• 軟體控制面板

 應用范圍

• 半導體測試
• LED / LD 測試
• 電池測試
• 電晶體量測
• 太陽(yáng)能電池測試
• 電動(dòng)車(chē)測試
• 航太電子測試
• 電力電子測試
• 感應器測試

52400e 系列SMU ( 電源量測單元; Source Measurement Unit) 為高速PXIe 模組設計，可安 裝于蕞新 PXIe 機箱。52400e SMU 是一款可進(jìn)行 高精密電壓/ 電流供應源或負載模擬，同時(shí)又可 準確量測電流/ 電壓值之綜合高精密儀器設備。

52400e系列電源量測單元具備四象限輸出功能， 不單準確且具備高速量測性能。這些 特性使得電 源量測單元適合進(jìn)行準確的參數量測；應用范圍 包含: ICs, 發(fā)光二極體(LEDs), 雷射二極體(Laser Diodes), 電晶體(Transistors), 太陽(yáng)能電池( Solar cells), 鋰電池(Batteries) 以及其他半導體元件。

為符合各樣的量測條件，52400e 系列電源量測 單元提供16 段頻寬控制供使用者選擇穩定的控 制回路。多重檔位加上18-bit DAC/ADC 提供了蕞 佳程式、量測解析度。取樣頻率( Sampling Rate) 達到100k s/S。 特殊可編程輸出阻抗，提供使用 者設定電池內部串聯(lián)電阻，此特性讓52400e 系 列電源量測單元 成為理想的電池模擬器。標準六線(xiàn)式 (±force, ±sense and ±guards ) 接線(xiàn)，針 對在低電流量測應用，如行動(dòng)裝置IC 與感應器 測試，可防止任何漏電流(Leakage Current) 并降低量測時(shí)間 (Settling Time)， 以大幅提高 量測精度及速度。

52400e 系列電源量測單元內建硬體時(shí)序引 擎， 使用時(shí)序(Deterministic Timing) 控制每一個(gè) 電源量測單元單元，即使未與電腦連接使用，量 測程序仍可正常執行。記憶體于每個(gè)Channel 多可儲存65525 個(gè)定序指令及內建32k 量測讀 值，可提供數個(gè)模組卡片的量測程序進(jìn)行同步， 并確保無(wú)任何輸出及量測之時(shí)間延遲。

52400e 系列電源量測單元提供 C/C# 與各種版本 的 LabView/LabWindows 應用程式介面(APIs) 與 軟體控制面板，加上模組卡背面的接頭，提供客 戶(hù)工業(yè)標準規格 PXIe 與PXI-hybrid 系統，并執行 各種測試應用。

四象限輸出

所有Chroma 52400e 系列電源量測單元皆設計為四象限輸出 (Four-Quadrant Operation) 操作，可供應電壓/ 電流源或模擬負載(Load Simulation)。 當模擬負載時(shí) [Sink Mode; II、Ⅳ 象限]，基于PXIe 機箱對于每個(gè)插槽，有20W 的標準散熱限制。對高功率模組，這個(gè)散熱限制造成不對稱(chēng)之象限輸出范圍。

控制頻寬選擇

為縮短測試時(shí)間， 52400e 系列電源量測單元皆設計為快速反應，高速電壓、電流輸出。 然而待測物(DUT) 的阻抗、治具或電源線(xiàn)都有可能造成整個(gè)控制回路在電壓或電流輸出模式下不穩定的潛在因素。一個(gè)不穩定的控制回路可能造成過(guò)飽和震蕩，甚至會(huì )損壞待測物。因此，使用者可能被電源量測單元制造商要求在測試治具中增加電容器，讓系統 重新獲得穩定。 52400e 系列 電源量測單元 提供使用者 16 個(gè)控制頻寬選擇，此功能可免去對待測物的控制電路增加電容之困擾。此設定可作為測試程式參數的一部分，當待測物(DUT) 改變時(shí)，頻寬選項的選擇也可隨測試程式做對應之改變。

硬體序列引擎

52400e 系列 電源量測單元硬體序列引擎是功能強大的工具，它可以預先設定程式指令，讓儀器按步驟執行指令。即使未與電腦連接使用，量測程序仍可執行，同時(shí)確保輸出及量測上無(wú)任何時(shí)間延遲。以半導體測試為例，量測速度與時(shí)序控制非常重要，此時(shí)使用時(shí)序引擎功能即可達到蕞佳測試效能。此模式中，一旦儀器接收到觸發(fā)訊號，硬體將逐行執行在時(shí)序表中的指令。右圖為軟體控制面板中之時(shí)序引擎設定螢幕畫(huà)面。

軟體控制面板

低電流量測技術(shù)

護衛(Guarding) 的應用在低電流(< 奈安) 量測時(shí)是一項很重要的技術(shù)。護衛輸出可以避免漏電流的問(wèn)題，并降低量測穩定時(shí)間。此輸出可以保持與 主輸出 (Force) 為同電位，如此在護衛輸出與主輸出間不會(huì )有電流產(chǎn)生。護衛輸出同時(shí)也消除了電源量測單元與待測體之間導線(xiàn)的電容，使得量測變得快速且準確。

主從輸出模式

52400e 系列電源量測單元支援主從輸出模式(Master/Slave Operation) 當供電壓- 測電流 (FVMI) 模式下，需要較高電流時(shí)，可發(fā)揮蕞佳彈性化應用。 為達到模組間電流共享目的， 52400e 系列電源量測單元可支援相同型號的通道并聯(lián)，形成較高電流/ 功率模組。 電流共享是將其中一通道在供電壓- 測電流 (FVMI) 模式下設為主控單元(Master)，其他通道則需設為供電流- 測電壓 (FIMV) 模式。主控單元的輸出電壓值設為量測應用需要的電壓值，而其電流值為其他單元在供電流- 測電壓 模式下之設定電流。右圖為在主從控制控模式下，通道并聯(lián) 方式的示意圖。

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致茂Chroma 52400e 高精度電源量測單元